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428 초 음 파 탐 상 검 사 때문에 단면도를 그려 확인할 필요가 있다. 탐촉자가 작을수록 굴절각이 클수록 탐상불능 영역이 작아진다. 일반적으로는 판두께 40mm 이상의 시험체에 대해서는 45°, 이보다 두 께가 얇은 시험체에 대해서는 70°의 굴절각을 선택한다.       R r R r 그림 3-42 탐상불능영역 그림 3-43 V 투과 펄스의 측정 탐상감도의 조정은 [그림 3-42]와 같이 2개의 탐촉자를 1 스킵 떨어진 위치에서 서로 대 향시켜 위치하고 검출된 V투과 펄스의 크기가 화면 세로축의 40%가 되도록 게인조정노브 를 조정한다. 이 40°의 높이를 M선이라 한다. 굴절각 45°의 경우는 감도를 10dB 더 높인 다. 굴절각 70°의 경우는 결함면에 대해 모드변환손실 양을 가미하여 감도를 16dB 더 높인 다. 이 결과 화면의 80% 높이가 H선이 되고 굴절각이 달라도 결함검출 정도는 같아진다. 검출레벨은 굴절각 45° 및 70° 어느 경우도 H선보다 12dB 낮은 L선(화면 세로축의 20%)으 로 하는 경우가 많다. 그럴 경우 결함 깊이는 L-Cut법을 사용한다. 3. TOFD법 TOFD(time of fight diffraction)법은 결함 단부에서의 회절 에코를 이용하는 방법이며, 다음과 같이 결함의 높이를 측정할 수 있다. [그림 3-44]에 나타내듯이 결함을 사이에 두 고 송신 및 수신용 종파사각탐촉자를 시험체 표면에 두고 초음파를 송신시키면 표면을 전 파하는 파(A)와 저면 반사파(B) 이외에 결함이 있는 경우 결함의 상단부 및 하단부에서 회 절한 에코(C 및 D)가 수신된다. 이때의 상단부 회절 에코의 도달 시간(t c ), 하단부 회절 에 코의 도달 시간(t D ) 및 탐촉자간 거리(L)로부터 식 (3. 43)에 의해 결함의 높이(H)를 구한 다.(단 C는 종파음속) 비파괴1권-인쇄용.indb 428 2014-12-23 오후 4:43:11