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406 초 음 파 탐 상 검 사 탐상방향을 선정하는 경우 기본적으로 고려해야할 사항은 다음과 같다. ① 발생이 우려되는 결함의 위치 및 방향을 예측한다. ② 결함에 초음파가 반사되는 면이 수평이 되는 면을 탐상면으로 한다. ③ 시험체의 구조상 ②와 같은 표면이 탐상면이 아닌 경우는 저면으로부터의 탐상이나 반사회수의 변경 등을 고려하여 탐상면을 결정한다. ④ 횡파사각탐촉자를 사용하는 경우 굴절각 40° 이상 70° 이하의 범위에서 결함을 수직 에 가까운 방향으로부터 겨냥할 수 있는 굴절각을 선정한다. ⑤ 결함의 발생 위치(검사 대상 부위) 전체가 포함되도록 주사범위를 결정한다. 사각탐상검사의 경우는 시험체표면 (탐상면)에 대해 경사로 초음파를 투입하여 탐상하는 방법으로 표면에 대해 경사를 갖는 결함(표면에 평행하지 않는 결함)의 검출과 평가에 적합 하여 용접부나 단조품에 적용된다. 탐상방향을 선정하는 경우 수직탐상과 같이 검사부 전 체를 초음파 빔이 미치게 하는 것만 아니고 검출해야 할 결함의 발생위치, 방향을 고려하지 않으면 안된다. 나. 탐촉자의 선정 (1) 주파수 검사주파수의 선정에서 고려해야 하는 것은 검출한계가 되는 결함크기(파장의 1/10 정 도), 탐촉자 및 결함의 지향특성, 산란에 의한 감쇠나 SN비, 탐상면의 거칠기 및 곡률에 의 한 전달손실 등을 고려해야 한다. 일반적으로 보통의 사각탐상에는 횡파초음파가 사용되 고 있고 용접부의 탐상에는 2~5MHz의 주파수가 많이 사용되고 있다. 초음파의 파장이 짧 을수록 결함에 의한 초음파가 반사되기 쉽기 때문에 주파수가 높을수록 미소결함 검출능은 높아진다. 검출한계가 되는 결함크기는 보통강에서 파장의 1/2-1/10 정도이다. 주파수가 높을수록 탐촉자의 지향성은 예리하기 때문에 결함위치의 측정정밀도를 높이기 위해서는 높은 주파수가 좋다. 그러나 초음파 빔은 가늘기 때문에 탐촉자의 주사 피치는 작게 할 필 요가 있다. 초음파의 파장이 금속의 결정립의 크기와 같지 않거나 그 이하일 때 다시 말해 주파수가 너무 높은 경우 또는 결정립이 조대한 경우에는 산란감쇠가 크고 또 결정립계에서 산란 등 에 의한 임상에코가 나타나게 되어 결함검출이 곤란해진다. 이와 같은 경우에는 저주파수 비파괴1권-인쇄용.indb 406 2014-12-23 오후 4:43:04