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334 초 음 파 탐 상 검 사 p l l = = × = × 2 0 2 0 0 0 8 2 2 B T x D A P P P P P T T T ………………………………………… (1. 49) 저면에코높이는 어느 정도이상의 두꺼운 시험체에서는 두께에 반비례하게 된다. 또한, 브라운관 상에 나타나는 저면에코높이를 h B (%)로 나타내면 다음과 같이 표시할 수 있다. p l = × × × 2 0 8 B B D h K P K P T ………………………………………………………… (1. 50) 저면에코를 이용하여 탐상기의 감도를 조정한 후 탐상했을 때 높이 h B (%)의 결함에코가 검출되었다고 하면, 식 (1. 46)로 표시되고 식 (1. 50)과의 비를 구하여 결함의 지름 D F 에 대해 정리하면 다음과 같이 된다. l p = ´ 2 2 F F B h x D h T ………………………………………………………………… (1. 51) 윗 식에서 우변의 각각의 값은 측정 또는 계산 가능하고 결함을 빔 중심축에 수직한 원형 평면결함이라고 가정했을 때의 지름 D F 가 구해진다. 이것은 저면에코방식에 의한 감도조정 의 원리라고도 불린다. 여기서 결함크기로 부터 결함크기의 추정이 가능한 것은 결함에코 높이가 동일한 거리에 있는 저면에코보다 작은 경우에 한한다. 저면에코높이와 동일하게 되 는 원형평면결함의 최소지름을 D cr 이라 하면 식 (1. 51)에서 F B h h , T=x로 치환함으로써 다음 과 같이 나타낼 수 있다. l p = 2 cr x D ………………………………………………………………………… (1. 52) 따라서 식 (1. 49), 식 (1. 51)에 의해 에코높이로부터 결함크기의 추정이 가능한 것은 식 (1. 52)에 표시된 한계치수 D cr 보다 작은 결함에 한한다. 이것을 초과하는 결함에는 에코높 이가 일정하게 되고 탐촉자를 이동시켰을 때의 에코높이의 변화로부터 결함의 크기(다시 말해 결함지시길이)를 측정할 수 있다. 비파괴1권-인쇄용.indb 334 2014-12-23 오후 4:42:49